메커니즘 BGA 테스트 소켓 하우징 KR-3545-SP 위험 감소 Ic 테스트 소켓
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메커니즘 BGA 테스트 소켓 하우징 KR-3545-SP를 발견하십시오. IC 테스트에서 위험을 줄이기 위해 설계된 맞춤형 주사형 테스트 소켓 장.이 정밀 엔지니어링 제품은 높은 정확성과 신뢰성을 보장합니다.
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