Mechanismus BGA-Prüfsocket Gehäuse KR-3545-SP Risikominderung Ic-Prüfsocket
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Entdecken Sie das Mechanismus BGA-Testsockelgehäuse KR-3545-SP, ein kundenspezifisch spritzgegossenes Testsockelgehäuse, das Risiken bei IC-Tests reduziert. Dieses präzisionsgefertigte Produkt gewährleistet hohe Genauigkeit und Zuverlässigkeit für Ihre Testanforderungen.
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